Crystal structure of oligothiophene thin films characterized by two-dimensional grazing incidence X-ray diffraction

Abstract : no abstract
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Japanese Journal of Applied Physics, part 1 : Regular papers, Short Notes, 2014, 53 (1S), pp.01AD01. 〈10.7567/JJAP.53.01AD01〉
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Contributeur : Cécile Ferran <>
Soumis le : lundi 12 septembre 2016 - 15:19:08
Dernière modification le : jeudi 18 janvier 2018 - 02:25:36

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Takeshi Watanabe, Tomoyuki Koganezawa, Mamoru Kikuchi, Christine Videlot-Ackermann, Jörg Ackermann, et al.. Crystal structure of oligothiophene thin films characterized by two-dimensional grazing incidence X-ray diffraction. Japanese Journal of Applied Physics, part 1 : Regular papers, Short Notes, 2014, 53 (1S), pp.01AD01. 〈10.7567/JJAP.53.01AD01〉. 〈hal-01364372〉

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